光切法顯微鏡是應用計算機輔助測量的新一代光切法工具顯微鏡，能解決各種復雜的二維測量問題。光切法顯微鏡可以測量零件的長度、角度、螺紋等諸多幾何量參數，是長度計量檢測中使用較多的一種測試儀器，因此廣泛應用于機械加工業的各類企業。但隨著現代工業的發展以及科技的進步，傳統的老式萬工顯已難以滿足要求，因此很有必要對其進行技術改造。

　　一、數顯系統的改型

　　二、數顯系統的安裝

　　三、數顯系統的調試

　　四、數顯系統的檢定

　　根據萬工顯檢定規程中的相關規定，需要檢定讀數裝置的示值誤差、讀數裝置的回程誤差和示值誤差。

　　(1)讀數裝置的示值誤差檢定

　　對數顯系統來說，讀數裝置的示值誤差就是數顯表的小分辨率，即±0.5μm，無須檢定。

　　(2)讀數裝置的示值誤差的檢定(相當于磁柵尺的重復性)

　　光柵尺讀數裝置就其構造和原理來說是沒有回程誤差的，當然這需要很高的工藝水平做保證通過用0.1μm的電感測微儀反復測試，光柵尺讀數裝置的回程誤差大不超過0.5μm

　　(3)示值誤差的檢定(相當于磁柵尺的準確性)

　　用檢定上限誤差不大于0.5μm的玻璃刻度尺作為標準，按照規程規定的條件方法對縱、橫向分別進行檢定;若沒有玻璃刻度尺，可用光切法工具顯微鏡原有的刻度尺與光柵尺進行比較檢定，并用儀器原有的示值誤差進行修正，以確定光柵尺各被檢點的實際誤差，若有超差再用線性補償系統進行補償。